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技術文章

涂層厚度測量、材料分析以及表面特性的技術術語

有關涂層厚度測量、材料分析以及表面特性的技術術語

ESP 方法(增強剛度程序)

當根據 ESP 方法(增強剛度程序)進行測量時,裝載和卸載均是增量式的。可以在相同位置快速進行與深度和力相關的特性測定,例如壓痕的彈性模量 (EIT)、壓痕硬度 (HIT) 或維氏硬度 (HV)。

STEP 測試

STEP 測試可用于同時測量多重鎳涂層的電位差和涂層厚度,從而評估其腐蝕行為。

這是庫侖法的演變方法。

儀器化壓痕試驗

所有 FISCHER 顯微硬度儀器均采用儀器化壓痕試驗法(通常稱為納米壓痕)來確定馬氏硬度 (HM)。與其它硬度測試相反,該方法不僅確定材料的塑性行為,而且還可以從測量圖中讀取附加的材料參數,例如壓痕的彈性模量 (EIT)、壓縮硬度 (HIT) 和壓痕蠕變 (CIT),以及塑性和彈性形變能。


有關涂層厚度測量、材料分析以及表面特性的技術術語

光圈

使用光圈(準直器)限制原 X 射線束的橫截面,產生具有預定尺寸的測量點,使 X 射線束的尺寸和形狀**調整為試樣幾何形狀。根據測量系統,采用單獨的固定光圈或可更換的多孔光圈。

測量非常小的物體(例如引線框架上的結合區域),光圈由配有鏡子或多毛細管的特殊 X 射線光學器件代替,同時提供非常小的測量點和高激發強度。

光譜

在 X 射線熒光分析中,由樣品發射的輻射將在信號光譜中描繪,信號頻譜中的線將識別樣品中包含的元素。從該頻譜中,FISCHER WinFTM® 軟件將計算所需的參數,如涂層厚度或元素濃度。

關閉裝置

FISCHER X 射線儀器的關閉裝置直接位于光束路徑中,并且僅在測量期間打開。在其關閉狀態下,防止初級輻射進入測量室。由安全系統監控,僅當外殼完全關閉時才會打開,消除了操作員的輻射危險。

初級過濾器

專用過濾器可優化用于給定應用程序的原 X 輻射的能量分布,吸收輻射不需要的任何光譜分量。根據儀器類型,采用單獨的固定過濾器或可移除的多過濾器。


有關涂層厚度測量、材料分析以及表面特性的技術術語

孔測試

該測試方法是基于所有電絕緣涂層材料均具有比空氣高得多的破壞強度的事實。通過測試電極和導電底座間的火花放電(短路),在缺陷點處進行孔檢測。缺陷點可以是薄的空氣通道(孔、裂縫)或是下面導電底座上過薄的涂層。

密封質量,適用于陽極氧化涂層

陽極氧化處理的耐候性是密封質量的功能。根據 DIN EN ISO 2931 和 ASTM B 457-67,其中陽極氧化膜形成電介質的電容器的導納 (Y) 是密封質量的良好標準。ANOTEST® YMP30-S 根據標準測量導納,其設計亦非常適合現場測試。

庫侖法

庫侖法是一種符合 DIN EN ISO 2177 的電化學分析法,用以確定金屬涂層的厚度。

它通常用于檢測電鍍涂層的質量及監測印刷電路板上剩余的純錫的厚度。該方法也適用于多層涂層,例如鍍在塑料表面上的銅表面上的鎳表面上的鉻。

探測器

X 射線探測器測量由樣品發射的 X 射線熒光輻射的能量分布。針對不同目的,探測器的類型各不相同,均可用于各種應用中。


有關涂層厚度測量、材料分析以及表面特性的技術術語

材料類別 (COM)

使用 FISCHER X 射線儀器中的 COM 功能,可以將未知樣品自動分配*預定義的材料類別中。這些類別可以是材料的不同種類,例如不同合金、特定涂層厚度或涂層結構的濃度范圍。然后,WinFTM® 軟件便可以自動選擇用于測量的適當的應用程序。

例如,在金分析中,WinFTM® 首先確定合金的類型,然后選擇適當的測量應用程序,以高精度確定金含量。

距離控制測量 (DCM)

測量不規則的幾何形狀零件或凹痕,FISCHERSCOPE® X 射線儀器配有用于基于距離的測量校正的特殊功能:DCM 方法。

此功能還可以用于測試復雜的表面形狀和壓痕測量,當計算特定區域的測量結果時,WinFTM® 將自動計算當前測量距離。

輻射源

使用 X 射線管產生 X 射線熒光分析所需的初級 X 輻射,其中加熱的陰極發射通過施加高電壓而被加速*極高速度的電子。當這些電子撞擊管的陽極材料(通常為鎢或鉬)時,則產生 X 輻射。為了確保 X 射線管可在今后幾年中可靠運行,每個單獨的部件必須通過大量的新的檢查測試。

FISCHER 開發的 X 射線發生器集成了屏蔽油冷管和高壓產生器,從而實現了優良的穩定性和較長的使用壽命。


有關涂層厚度測量、材料分析以及表面特性的技術術語

鐵氧體含量測量

鐵氧體含量的測量:按照 DIN EN ISO 17655 和 Basler 標準,測定奧氏體鋼和雙相鋼的鐵氧體含量以及奧氏體材料中形變馬氏體的比例很重要。如果鐵氧體含量太低,焊接材料則易于熱裂。如果鐵氧體含量太高,鋼的韌性、延展性以及耐腐蝕性則降低。

用戶必須單獨考慮可能影響精度的因素,例如樣品的幾何形狀、包層的厚度或滲透結構的外形。



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